DT

Messsysteme & Interface-Karten

bookmark_border
Meine Merkliste
Produkte filtern expand_more expand_less

Filter löschen

Frequenzbereichexpand_morechevron_right

Hz
Hz
chevron_right

Prüflingsmasseexpand_morechevron_right

g
g
chevron_right

Beschleunigungexpand_morechevron_right

m/s²
m/s²
chevron_right

Nennkraftexpand_morechevron_right

N
N
chevron_right
Frontansicht SPEKTRA_S-TEST/2

S-TEST/2

S-TEST/2

S-TEST/2 - Kompaktes Testsystem für digitale Sensoren

Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Zur Anwendung in der Entwicklung und Test bzw. zur Qualitätssicherung im Fertigungsprozess.
Kompaktes Testsystem für digitale Sensoren

chevron_right

S-TEST/16 Fab

S-TEST/16 Fab

S-TEST/16 Fab – Produktionsprüfsystem für digitale Sensoren

Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Einsatzgebiete sind Massenproduktionstests und Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
Produktionsprüfsystem für digitale Sensoren

chevron_right

S-TEST/16 Lab

S-TEST/16 Lab

S-TEST/16 Lab - Effizientes Testsystem für digitale Sensoren

Kompakte Testlösung auf Systemebene (SLT) für Sensoren mit digitalen Schnittstellen. Entwicklung und Testen von Sensoren bzw. Qualitätssicherung in der Sensorfertigung.
Effizientes Testsystem für digitale Sensoren

chevron_right

S-TEST UTB (BSI) - Universal Tester Board

S-TEST UTB (BSI) - Universal Tester Board

Universelles Board für effiziente System-Level-Tests (SLT) von digitale Sensoren, Prüfung der Sensorcharakterisierung oder Endprüfung in der Sensorproduktion.

Leistungsfähiges Testsystem für digitale Sensoren

chevron_right

S-TEST - Chassis Controller Board

S-TEST - Chassis Controller Board

Interfacekarte für die S-TEST Systemlösungen

S-TEST Kommunikationsschnittstelle

chevron_right

SPEKTRA S-TEST BSI SIRm 2+ für MEMS Sensoren

S-TEST/2m

S-TEST/2m

BSI-SIRm-2+
 
Zum Vermessen elektrischer Eigenschaften von und zur Kommunikation mit MEMS-Sensoren.
System für Vermessung und Kommunikation von MEMS Sensoren

chevron_right

S-TEST FECB Kalibrierplatz

S-TEST FECB Kalibrierplatz

Kalibrieren und Justieren von SPEKTRA Tischgeräten / Schaltschränken BSI

mobiler S-TEST Kalibrierplatz FECB

chevron_right

SPEKTRA Erregersysteme bieten ein breites Spektrum an physikalischen Anregungsgrößen, wie z.B. Translation, Rotation, Magnetfeld oder Druck um eine große Anzahl von unterschiedlichsten Sensortypen zu stimulieren und unter Anregung testen zu können.

Neben der normengerechten Kalibrierung von Sensoren können diese Anregungssysteme auch verwendet werden um in der Kombination mit den S-TEST Lösungen einen vollständigen Systemtest aus Anregung und Messwertabgleich durchzuführen.